CIQTEK to Showcase Advanced SEM Technology and U.S. Local Support at SEMS 2026

안정적이고, 다재다능하며, 유연하고, 효율적입니다. 그만큼 CIQTEK SEM4000X 안정적이고, 다재다능하며, 유연하고 효율적입니다. 전계 방출 주사 전자 현미경(FE-SEM) 이 제품은 1.0kV에서 1.8nm의 해상도를 달성하며, 다양한 종류의 시료에 대한 고해상도 이미징 문제를 손쉽게 해결합니다. 또한 초고속 빔 감속 모드를 추가하여 저전압 해상도를 더욱 향상시킬 수 있습니다. 이 현미경은 다중 검출기 기술을 활용하며, 컬럼 내 전자 검출기(UD)는 SE 및 BSE 신호를 검출하면서 고해상도 성능을 제공합니다. 챔버 장착형 전자 검출기(LD)는 결정 섬광체와 광증폭관을 통합하여 더 높은 감도와 효율을 제공함으로써 탁월한 품질의 입체 이미지를 구현합니다. 사용자 친화적인 그래픽 사용자 인터페이스는 자동 밝기 및 대비 조절, 자동 초점, 자동 스티그마터, 자동 정렬과 같은 자동화 기능을 제공하여 초고해상도 이미지를 신속하게 촬영할 수 있도록 합니다.

초고분해능 전계방출 주사전자현미경(FESEM) 그만큼 CIQTEK SEM5000X 최적화된 전자 광학 컬럼 설계를 통해 전체 수차를 30%까지 줄인 초고분해능 FESEM으로, 15kV에서 0.6nm, 1kV에서 1.0nm의 초고분해능을 구현합니다. 높은 분해능과 안정성 덕분에 첨단 나노 구조 재료 연구뿐만 아니라 첨단 노드 반도체 IC 칩의 개발 및 제조에도 유리합니다.

초고해상도 텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경 그만큼 시크텍 SEM3300 주사전자현미경(SEM) "슈퍼 터널" 전자 광학, 인렌즈 전자 검출기, 정전식 및 전자기식 복합 대물렌즈와 같은 기술을 통합합니다. 이러한 기술을 텅스텐 필라멘트 현미경에 적용함으로써 기존 주사전자현미경(SEM)의 오랜 분해능 한계를 뛰어넘어, 이전에는 필드 방출 주사전자현미경(FSEM)으로만 가능했던 저전압 분석 작업을 수행할 수 있게 되었습니다.