전계 방출 TEM | TH-F120

120kV 전계방출 투과전자현미경(TEM) 1. 분할된 작업 공간: 사용자는 TEM에 대한 환경 간섭을 줄여 편안하게 분할된 공간에서 TEM을 작동합니다. 2. 높은 운영 효율성: 지정된 소프트웨어는 고도로 자동화된 프로세스를 통합하여 실시간 모니터링과 효율적인 TEM 상호 작용을 가능하게 합니다. 3. 업그레이드된 운영 경험: 고도로 자동화된 시스템을 갖춘 전계 방출 전자총을 갖추고 있습니다. 4. 높은 확장성: 사용자가 다양한 애플리케이션 요구 사항을 충족하는 더 높은 구성으로 업그레이드할 수 있도록 충분한 인터페이스가 예약되어 있습니다.

Ga+ 집속 이온 빔 전계 방출 주사 전자 현미경 그만큼 CIQTEK DB550 집속 이온 빔 주사 전자 현미경(FIB-SEM) 나노 분석 및 시료 준비를 위한 집속 이온 빔 컬럼을 갖추고 있습니다. "슈퍼 터널" 전자 광학 기술, 낮은 수차, 비자성 대물렌즈 설계를 활용하며, "저전압, 고해상도" 기능을 통해 나노스케일 분석 성능을 보장합니다. 이온 컬럼은 매우 안정적이고 고품질의 이온 빔을 제공하는 Ga+ 액체 금속 이온 소스를 활용하여 나노 제작 성능을 보장합니다. DB550은 나노 조작기, 가스 주입 시스템, 사용자 친화적인 GUI 소프트웨어가 통합된 올인원 나노 분석 및 제작 워크스테이션입니다.

고속 완전 자동화된 필드 방출 주사전자현미경 워크스테이션 CIQTEK HEM6000 고휘도 대구경 전류 전자총, 고속 전자빔 편향 시스템, 고전압 샘플 스테이지 감속, 동적 광학 축, 침지 전자기 및 정전기 콤보 대물 렌즈와 같은 시설 기술을 사용하여 나노 스케일 분해능을 보장하는 동시에 고속 이미지 획득을 달성합니다. 자동화된 작업 프로세스는 더욱 효율적이고 스마트한 대면적 고해상도 이미징 워크플로우와 같은 응용 분야를 위해 설계되었습니다. 이미징 속도는 기존 전계방출 주사전자현미경(FESEM)보다 5배 이상 빠릅니다.

초고분해능 전계방출 주사전자현미경(FESEM) 그만큼 CIQTEK SEM5000X 최적화된 전자 광학 컬럼 설계를 통해 전체 수차를 30%까지 줄인 초고분해능 FESEM으로, 15kV에서 0.6nm, 1kV에서 1.0nm의 초고분해능을 구현합니다. 높은 분해능과 안정성 덕분에 첨단 나노 구조 재료 연구뿐만 아니라 첨단 노드 반도체 IC 칩의 개발 및 제조에도 유리합니다.

CIQTEK를 읽어보세요 전자 현미경 현미경 고객 통찰력 및 l SEM 산업의 선두주자로서 CIQTEK의 강점과 성과에 대해 더 자세히 알아보세요! 이메일: info@ciqtek.com