CIQTEK Showcases Electron Microscopy Solutions at The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, USA
CIQTEK Showcases Electron Microscopy Solutions at The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, USA
March 18, 2026
CIQTEK participated in the TMS 2026 Annual Meeting & Exhibition, held from March 15–19, 2026 in San Diego, California, USA. Our U.S. team and local distribution partner welcomed visitors at Booth #307, where we presented our latest electron microscopy solutions for materials science applications.
About TMS 2026
Organized by The Minerals, Metals & Materials Society (TMS), this annual meeting is a key event for the global materials science community. It brings together researchers, engineers, and industry professionals working in areas such as metallurgy, advanced materials, additive manufacturing, and characterization technologies.
The event provides a strong platform for exchanging ideas, discovering new technologies, and discussing real-world challenges in materials research and production.
Tailored SEM Solutions for Materials Research
CIQTEK showcased electron microscopy solutions designed to support a wide range of materials science applications.
Our systems are well-suited for:
Microstructure analysis of metals and alloys
Failure analysis and defect investigation
Powder and particle characterization
Additive manufacturing and new materials research
Many visitors were particularly interested in how CIQTEK systems deliver stable imaging performance while remaining easy to operate. For labs balancing performance, usability, and budget, this combination is especially important.
We also had in-depth discussions with users about their daily challenges, such as improving imaging efficiency, simplifying workflows, and handling complex samples. These conversations help us better align our solutions with real application needs.
Strong Local Presence and Support in the U.S.
Participation in TMS 2026 is part of CIQTEK's broader strategy to expand its electron microscopy business in the U.S. market.
We offer:
A U.S.-based demo center for hands-on evaluation
U.S. Local technical and application support
Faster response for service and training
We continue to invest in local teams, infrastructure, and partnerships to support researchers and industry users better. By combining competitive technology with localized service, CIQTEK aims to make high-quality electron microscopy more accessible across North America.
초고해상도 텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경 그만큼 시크텍 SEM3300 주사전자현미경(SEM) "슈퍼 터널" 전자 광학, 인렌즈 전자 검출기, 정전식 및 전자기식 복합 대물렌즈와 같은 기술을 통합합니다. 이러한 기술을 텅스텐 필라멘트 현미경에 적용함으로써 기존 주사전자현미경(SEM)의 오랜 분해능 한계를 뛰어넘어, 이전에는 필드 방출 주사전자현미경(FSEM)으로만 가능했던 저전압 분석 작업을 수행할 수 있게 되었습니다.
가 + 집속 이온 빔 전계 방출 주사 전자 현미경 그만큼 CIQTEK DB550 집속 이온 빔 주사 전자 현미경(FIB-SEM) 나노 분석 및 시료 준비를 위한 집속 이온 빔 컬럼을 갖추고 있습니다. "슈퍼 터널" 전자 광학 기술, 낮은 수차, 비자성 대물렌즈 설계를 활용하며, "저전압, 고해상도" 기능을 통해 나노스케일 분석 성능을 보장합니다. 이온 컬럼은 Ga를 용이하게 합니다. + 나노 제작 성능을 보장하기 위해 매우 안정적이고 고품질의 이온 빔을 사용하는 액체 금속 이온 소스를 사용합니다. DB550은 나노 조작기, 가스 주입 시스템, 사용자 친화적인 GUI 소프트웨어가 통합된 올인원 나노 분석 및 제작 워크스테이션입니다.
초고분해능 전계방출 주사전자현미경(FESEM) 그만큼 CIQTEK SEM5000X 최적화된 전자 광학 컬럼 설계를 통해 전체 수차를 30%까지 줄인 초고분해능 FESEM으로, 15kV에서 0.6nm, 1kV에서 1.0nm의 초고분해능을 구현합니다. 높은 분해능과 안정성 덕분에 첨단 나노 구조 재료 연구뿐만 아니라 첨단 노드 반도체 IC 칩의 개발 및 제조에도 유리합니다.