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전계 방출 주사 전자 현미경 | SEM4000

CIQTEK SEM4000은 고휘도 장수명 쇼트키 전계방출 전자총을 탑재한 분석용 열전계방출 주사전자현미경입니다.

크고 지속적으로 조정 가능한 빔 전류를 갖춘 3단계 자기 렌즈 설계는 EDS, EBSD, WDS 및 기타 응용 분야에서 확실한 이점을 제공합니다. 저진공 모드를 지원하여 약하거나 비전도성 샘플의 전도도를 직접 관찰할 수 있습니다. 표준 광학 탐색 모드와 직관적인 작동 인터페이스를 통해 분석 작업이 쉬워집니다.

*저진공 모드
고해상도(1nm@30kV)
지속적으로 조정 가능한 빔 전류

*60초 빠른 샘플 전환
3단계 자기렌즈
누출 없는 자기 대물렌즈

• 고휘도 및 장수명의 쇼트키 전계 방출 전자총 장착

•고해상도, 30kV에서 1nm 분해능 이상

•3단계 자기 렌즈 설계, 넓은 빔 조정 범위

•*고성능 저진공 2차 전자 검출기, 약하거나 비전도성 샘플 관찰

•자기 시료를 직접 관찰할 수 있는 누출 없는 자기 대물렌즈 설계

•표준 광학 탐색 모드

PA-유리섬유 복합재료
10kV / 500X / BSED Comp
실리카 미소구체
10kV / 80,000X / BSED Comp
금속 골절
15kV / 5,000X / SE ETD

금속 미세구조(알루미늄 구리 용접 부품)
20kV / 10,000X / BSED Comp
콜리플라워 꽃가루
10kV / 50,000X / SE ETD
스트론튬 티탄산 바륨 세라믹
10kV / 10,000X / BSED Comp

티타늄 합금
10kV / 5,000X / BSED Comp
티타늄 합금
10kV / 10,000X / SE ETD

주요 매개변수	해결	1nm @ 30kV, SE 0.9nm @ 30kV, 줄기
	가속 전압	200V ~ 30kV
	확대	1 ~ 1,000,000x
	전자총	고휘도 쇼트키 전계 방출 전자총
샘플실	진공 시스템	완전 자동 제어
	저진공(옵션)	최대 180Pa
	카메라	듀얼 카메라(광학 네비게이션 + 챔버 내 모니터링)
	거리	엑스: 120mm Y: 115mm Z: 50mm 티: -10°~ +90° 오른쪽: 360°
감지기와 확장	기준	Everhart-Thornley 검출기(ETD)
감지기와 확장	선택 과목	저진공 검출기(LVD) 후방 산란 전자 검출기(BSE) STEM 검출기 EDS EBSD 에어록 트랙볼 & 손잡이 제어판
소프트웨어	언어	영어
	OS	윈도우
	항해	광학 탐색, 제스처 탐색
	자동 기능	자동 밝기 대비, 자동 초점, 자동 난시

핫 태그 : 전계방출형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope) 제조업체 글로벌 공급업체 SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM 검출기 고해상도 FESEM 최적의 가격 고휘도 쇼트키 전계 방출 전자총 최고 배율 전계 방출 주사 전자 현미경 전계 방출 주사 전자 현미경 응용 분야 전계 방출 주사 전자 현미경 pdf 전계 방출 주사 전자 현미경 참고 사항

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