안정적이고, 다재다능하며, 유연하고, 효율적입니다.
그만큼 CIQTEK SEM4000X 안정적이고, 다재다능하며, 유연하고 효율적입니다. 전계 방출 주사 전자 현미경(FE-SEM) 이 제품은 1.0kV에서 1.8nm의 해상도를 달성하며, 다양한 종류의 시료에 대한 고해상도 이미징 문제를 손쉽게 해결합니다. 또한 초고속 빔 감속 모드를 추가하여 저전압 해상도를 더욱 향상시킬 수 있습니다.
이 현미경은 다중 검출기 기술을 활용하며, 컬럼 내 전자 검출기(UD)는 SE 및 BSE 신호를 검출하면서 고해상도 성능을 제공합니다. 챔버 장착형 전자 검출기(LD)는 결정 섬광체와 광증폭관을 통합하여 더 높은 감도와 효율을 제공함으로써 탁월한 품질의 입체 이미지를 구현합니다. 사용자 친화적인 그래픽 사용자 인터페이스는 자동 밝기 및 대비 조절, 자동 초점, 자동 스티그마터, 자동 정렬과 같은 자동화 기능을 제공하여 초고해상도 이미지를 신속하게 촬영할 수 있도록 합니다.
CIQTEK SEM 현미경 소프트웨어는 다양한 유형의 입자 및 기공 시료에 적합한 여러 가지 대상 검출 및 분할 알고리즘을 사용합니다. 이를 통해 입자 및 기공 통계에 대한 정량적 분석이 가능하며 재료 과학, 지질학, 환경 과학 등의 분야에 적용할 수 있습니다.
전자 현미경으로 촬영한 이미지에 대해 온라인 또는 오프라인 이미지 후처리를 수행하고, 일반적으로 사용되는 전자 현미경 이미지 처리 기능, 편리한 측정 및 주석 도구를 통합합니다.
선 굵기 경계를 자동으로 인식하여 더욱 정확하고 일관성 있는 측정을 제공합니다. 선, 간격, 피치 등 다양한 경계 감지 모드를 지원하며, 여러 이미지 형식을 지원하고 다양한 이미지 후처리 기능을 탑재하고 있습니다. 사용이 간편하고 효율적이며 정확한 측정 결과를 제공합니다.
이미지 획득, 작동 조건 설정, 전원 켜짐/꺼짐, 스테이지 제어 등을 포함한 SEM 현미경 제어용 인터페이스 세트를 제공합니다. 간결한 인터페이스 정의를 통해 특정 전자 현미경 작동 스크립트 및 소프트웨어를 신속하게 개발할 수 있으며, 관심 영역 자동 추적, 산업 자동화 데이터 수집, 이미지 드리프트 보정 등의 기능을 구현할 수 있습니다. 규조류 분석, 강철 불순물 검사, 청정도 분석, 원자재 관리 등과 같은 전문 분야의 소프트웨어 개발에 활용 가능합니다.
| CIQTEK SEM4000X FESEM 현미경 사양 | ||
| 전자 광학 | 해결 |
0.9 nm @ 30 kV, SE
1.0 nm @15 kV, SE 1.8 nm @1 kV, SE 1.5 nm @1 kV (초고속 빔 감속) 0.8 nm @15 kV (초고속 빔 감속) |
| 가속 전압 | 0.2kV ~ 30kV | |
| 확대율(폴라로이드) | 1 ~ 1,000,000 x | |
| 전자총 타입 | 쇼트키 필드 방출 전자총 | |
| 검체실 | 카메라 | 듀얼 카메라(광학 내비게이션 + 챔버 모니터링) |
| 스테이지 범위 |
X: 110mm Y: 110mm Z: 65mm 온도: -10°C ~ +70°C R: 360° |
|
| SEM 검출기 및 확장 기능 | 기준 |
렌즈 내장형 전자 검출기: UD-BSE/UD-SE 에버하트-쏜리 검출기: LD |
| 선택 과목 |
후방산란 전자 검출기(BSED) 접이식 주사투과전자현미경 검출기(STEM) 저진공 검출기(LVD) 에너지 분산 분광기(EDS/EDX) 전자 후방 산란 회절 패턴(EBSD) 시료 교환용 로드록(4인치/8인치) 트랙볼 및 노브 컨트롤 패널 울트라 빔 감속 모드 기술 |
|
| 사용자 인터페이스 | 언어 | 영어 |
| OS | 윈도우 | |
| 항해 | 광학식 내비게이션, 제스처 기반 빠른 내비게이션, 트랙볼(선택 사항) | |
| 자동 기능 | 자동 밝기 및 대비, 자동 초점, 자동 스티그마터 | |