CIQTEK to Participate in the 60th Anniversary Meeting of the Texas Society for Microscopy (TSM 2026)
CIQTEK to Participate in the 60th Anniversary Meeting of the Texas Society for Microscopy (TSM 2026)
January 15, 2026
CIQTEK is pleased to announce its participation in the 60th Anniversary Meeting of the Texas Society for Microscopy (TSM), which will take place on February 19–20, 2026, at The University of Texas at Austin, USA.
Marking six decades of contributions to the microscopy community, TSM 2026 brings together researchers, facility managers, and industry professionals to discuss both the legacy and the future of microscopy. CIQTEK is honored to be part of this milestone event and to engage with the Texas and broader U.S. microscopy community.
Supporting Advanced Microscopy with Practical, High-Performance EM Solutions
At TSM 2026, CIQTEK will showcase its growing portfolio of electron microscopes (EM), designed to meet the evolving needs of academic research, shared facilities, and industrial laboratories.
CIQTEK's EM product line covers a wide range of applications, from routine imaging to advanced materials characterization, including:
FIB-SEM systems, delivering enhanced brightness and resolution for materials science and industrial inspection
Field Emission SEM (FE-SEM), engineered for high-resolution imaging, analytical workflows, and demanding research environments
Tungsten filament SEM, offering stable performance and cost-effective solutions for teaching labs and routine analysis
Across the portfolio, CIQTEK focuses on delivering reliable imaging performance, intuitive system operation, and long-term ownership value, helping laboratories achieve consistent results without unnecessary complexity.
Engaging with the Microscopy Community
CIQTEK views conferences like TSM not only as an opportunity to present instrumentation, but also as a platform for meaningful technical exchange. During the meeting, the CIQTEK team looks forward to discussing real-world microscopy challenges, system selection considerations, and long-term operational needs with users across materials science, life science, and industrial applications.
For attendees interested in learning more about CIQTEK EM solutions or exploring potential collaborations, CIQTEK warmly welcomes conversations during the meeting in Austin!
Local Support from CIQTEK USA
To better serve customers in North America, CIQTEK maintains a local branch in the United States, providing regional sales support, application consultation, and long-term service assistance for electron microscopy users.
For more information about CIQTEK EM solutions or to connect with the CIQTEK USA team, please contact us at info.usa@ciqtek.com.
120kV 전계방출 투과전자현미경(TEM) 1. 분할된 작업 공간: 사용자는 TEM에 대한 환경 간섭을 줄여 편안하게 분할된 공간에서 TEM을 작동합니다. 2. 높은 운영 효율성: 지정된 소프트웨어는 고도로 자동화된 프로세스를 통합하여 실시간 모니터링과 효율적인 TEM 상호 작용을 가능하게 합니다. 3. 업그레이드된 운영 경험: 고도로 자동화된 시스템을 갖춘 전계 방출 전자총을 갖추고 있습니다. 4. 높은 확장성: 사용자가 다양한 애플리케이션 요구 사항을 충족하는 더 높은 구성으로 업그레이드할 수 있도록 충분한 인터페이스가 예약되어 있습니다.
초고해상도 텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경 그만큼 시크텍 SEM3300 주사전자현미경(SEM) "슈퍼 터널" 전자 광학, 인렌즈 전자 검출기, 정전식 및 전자기식 복합 대물렌즈와 같은 기술을 통합합니다. 이러한 기술을 텅스텐 필라멘트 현미경에 적용함으로써 기존 주사전자현미경(SEM)의 오랜 분해능 한계를 뛰어넘어, 이전에는 필드 방출 주사전자현미경(FSEM)으로만 가능했던 저전압 분석 작업을 수행할 수 있게 되었습니다.
가 + 집속 이온 빔 전계 방출 주사 전자 현미경 그만큼 CIQTEK DB550 집속 이온 빔 주사 전자 현미경(FIB-SEM) 나노 분석 및 시료 준비를 위한 집속 이온 빔 컬럼을 갖추고 있습니다. "슈퍼 터널" 전자 광학 기술, 낮은 수차, 비자성 대물렌즈 설계를 활용하며, "저전압, 고해상도" 기능을 통해 나노스케일 분석 성능을 보장합니다. 이온 컬럼은 Ga를 용이하게 합니다. + 나노 제작 성능을 보장하기 위해 매우 안정적이고 고품질의 이온 빔을 사용하는 액체 금속 이온 소스를 사용합니다. DB550은 나노 조작기, 가스 주입 시스템, 사용자 친화적인 GUI 소프트웨어가 통합된 올인원 나노 분석 및 제작 워크스테이션입니다.
초고분해능 전계방출 주사전자현미경(FESEM) 그만큼 CIQTEK SEM5000X 최적화된 전자 광학 컬럼 설계를 통해 전체 수차를 30%까지 줄인 초고분해능 FESEM으로, 15kV에서 0.6nm, 1kV에서 1.0nm의 초고분해능을 구현합니다. 높은 분해능과 안정성 덕분에 첨단 나노 구조 재료 연구뿐만 아니라 첨단 노드 반도체 IC 칩의 개발 및 제조에도 유리합니다.