CIQTEK SEM Solutions Highlighted at the 2nd IESMAT Electron Microscopy Day, Spain
CIQTEK SEM Solutions Highlighted at the 2nd IESMAT Electron Microscopy Day, Spain
November 10, 2025
The 2nd IESMAT Electron Microscopy Day was successfully held on November 6, 2025, in Madrid, Spain, bringing together dozens of microscopy experts, researchers, and professionals from Spain and Portugal. The event served as a valuable platform for sharing knowledge, exploring the latest microscopy technologies, and strengthening connections within the Iberian microscopy community.
As CIQTEK’s official partner in Spain and Portugal, IESMAT provides localized support and professional service for CIQTEK electron microscopy solutions in the region. This year, the event was also recognized by the Portuguese Society of Microscopy, further expanding its reach and influence among the scientific and industrial communities.
During the meeting, IESMAT presented an in-depth introduction to CIQTEK’s electron microscope product portfolio, highlighting advanced features and application advantages of the CIQTEK SEM series. A live demonstration using the CIQTEK Tungsten Filament SEM3200 allowed attendees to experience its high-resolution imaging capabilities and intuitive operation firsthand. The hands-on session sparked active discussions, with many participants engaging directly with IESMAT experts for technical insights and practical guidance.
IESMAT Demonstrating the CIQTEK SEM3200
The event also featured a series of technical presentations and open discussions on microscopy applications across materials science, nanotechnology, and life sciences, reflecting the growing interest and demand for high-performance, user-friendly microscopy tools in the Iberian market.
Looking ahead, CIQTEK and IESMAT will continue to deepen their collaboration to provide cutting-edge electron microscopy technologies, comprehensive customer support, and training opportunities to researchers and laboratories in Spain and Portugal. Together, they aim to empower scientific discovery and innovation through accessible, high-quality instrumentation.
가 + 집속 이온 빔 전계 방출 주사 전자 현미경 그만큼 CIQTEK DB550 집속 이온 빔 주사 전자 현미경(FIB-SEM) 나노 분석 및 시료 준비를 위한 집속 이온 빔 컬럼을 갖추고 있습니다. "슈퍼 터널" 전자 광학 기술, 낮은 수차, 비자성 대물렌즈 설계를 활용하며, "저전압, 고해상도" 기능을 통해 나노스케일 분석 성능을 보장합니다. 이온 컬럼은 Ga를 용이하게 합니다. + 나노 제작 성능을 보장하기 위해 매우 안정적이고 고품질의 이온 빔을 사용하는 액체 금속 이온 소스를 사용합니다. DB550은 나노 조작기, 가스 주입 시스템, 사용자 친화적인 GUI 소프트웨어가 통합된 올인원 나노 분석 및 제작 워크스테이션입니다.
초고분해능 전계방출 주사전자현미경(FESEM) 그만큼 CIQTEK SEM5000X 최적화된 전자 광학 컬럼 설계를 통해 전체 수차를 30%까지 줄인 초고분해능 FESEM으로, 15kV에서 0.6nm, 1kV에서 1.0nm의 초고분해능을 구현합니다. 높은 분해능과 안정성 덕분에 첨단 나노 구조 재료 연구뿐만 아니라 첨단 노드 반도체 IC 칩의 개발 및 제조에도 유리합니다.
초고해상도 텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경 그만큼 시크텍 SEM3300 주사전자현미경(SEM) "슈퍼 터널" 전자 광학, 인렌즈 전자 검출기, 정전식 및 전자기식 복합 대물렌즈와 같은 기술을 통합합니다. 이러한 기술을 텅스텐 필라멘트 현미경에 적용함으로써 기존 주사전자현미경(SEM)의 오랜 분해능 한계를 뛰어넘어, 이전에는 필드 방출 주사전자현미경(FSEM)으로만 가능했던 저전압 분석 작업을 수행할 수 있게 되었습니다.
고성능 및 범용 텅스텐 필라멘트 SEM 현미경 그만큼 CIQTEK SEM3200 SEM 현미경 탁월한 성능을 갖춘 범용 텅스텐 필라멘트 주사전자현미경(SEM)입니다. 고유한 이중 양극 전자총 구조는 높은 분해능을 보장하고 낮은 여기 전압에서 이미지 신호대잡음비를 향상시킵니다. 또한, 다양한 옵션 액세서리를 제공하여 SEM3200은 뛰어난 확장성을 갖춘 다재다능한 분석 기기입니다.