This year, we officially formed a dedicated CIQTEK US team. That means more local presence, faster response, and closer communication with customers across the country.
And we are not staying behind a desk.
Our U.S. team, together with our official local distributor, JH Technologies, recently participated in the SMTA Wafer-Level Packaging Symposium 2026 and the 60th Anniversary Meeting of the Texas Society for Microscopy (TSM).
Supporting Advanced Packaging at SMTA 2026
At the SMTA Wafer-Level Packaging Symposium in San Francisco, we connected with engineers and technical experts working in advanced semiconductor packaging.
As devices continue to shrink, inspection and defect analysis become more demanding. Reliable SEM solutions USA customers can trust are more important than ever. We had open, practical conversations about real challenges in wafer-level packaging. Topics included imaging resolution, surface characterization, and process optimization.
These discussions help us better understand how the CIQTEK electron microscope can support advanced manufacturing and research applications.
CIQTEK and JH Technologies at the SMTA 2026
TSM 2026: The Start of Regional Engagement
The 60th Anniversary Meeting of the Texas Society for Microscopy was especially meaningful.
Unlike large national exhibitions, microscopy society events in the USA, such as TSM, allow for closer, more personal conversations. We met researchers, lab managers, and industry professionals from materials science, life sciences, and industrial labs.
For CIQTEK, TSM 2026 is the starting point of a broader plan. Our new CIQTEK US team will continue visiting regional microscopy societies across the country. We believe real relationships are built face-to-face.
CIQTEK at the TSM 2026
2026 Is Just the Beginning
The launch of our CIQTEK US team marks a new phase for CIQTEK electron microscope USA development.
We are investing in local support. We are building stronger partnerships. We are becoming part of the American microscopy ecosystem.
More regional visits are coming. More technical exchanges are ahead.
2026 is not just another year. It is the year CIQTEK steps closer to the U.S. microscopy community.
초고해상도 텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경 그만큼 시크텍 SEM3300 주사전자현미경(SEM) "슈퍼 터널" 전자 광학, 인렌즈 전자 검출기, 정전식 및 전자기식 복합 대물렌즈와 같은 기술을 통합합니다. 이러한 기술을 텅스텐 필라멘트 현미경에 적용함으로써 기존 주사전자현미경(SEM)의 오랜 분해능 한계를 뛰어넘어, 이전에는 필드 방출 주사전자현미경(FSEM)으로만 가능했던 저전압 분석 작업을 수행할 수 있게 되었습니다.
초고분해능 전계방출 주사전자현미경(FESEM) 그만큼 CIQTEK SEM5000X 최적화된 전자 광학 컬럼 설계를 통해 전체 수차를 30%까지 줄인 초고분해능 FESEM으로, 15kV에서 0.6nm, 1kV에서 1.0nm의 초고분해능을 구현합니다. 높은 분해능과 안정성 덕분에 첨단 나노 구조 재료 연구뿐만 아니라 첨단 노드 반도체 IC 칩의 개발 및 제조에도 유리합니다.
가 + 집속 이온 빔 전계 방출 주사 전자 현미경 그만큼 CIQTEK DB550 집속 이온 빔 주사 전자 현미경(FIB-SEM) 나노 분석 및 시료 준비를 위한 집속 이온 빔 컬럼을 갖추고 있습니다. "슈퍼 터널" 전자 광학 기술, 낮은 수차, 비자성 대물렌즈 설계를 활용하며, "저전압, 고해상도" 기능을 통해 나노스케일 분석 성능을 보장합니다. 이온 컬럼은 Ga를 용이하게 합니다. + 나노 제작 성능을 보장하기 위해 매우 안정적이고 고품질의 이온 빔을 사용하는 액체 금속 이온 소스를 사용합니다. DB550은 나노 조작기, 가스 주입 시스템, 사용자 친화적인 GUI 소프트웨어가 통합된 올인원 나노 분석 및 제작 워크스테이션입니다.