CIQTEK Electron Microscopy Advances its Global Footprint at ESEM 2025 in Egypt
CIQTEK Electron Microscopy Advances its Global Footprint at ESEM 2025 in Egypt
October 13, 2025
CIQTEK is honored to have participated in the Egyptian Society of Electron Microscopy (ESEM) International Conference 2025, held October 13–15 at the Theodor Bilharz Research Institute (TBRI) in Giza, Egypt. This event convened electron microscopy experts, researchers, and industry representatives from across the Middle East, Africa, and beyond, advancing the frontiers of microscopy in both life sciences and materials research.
This year’s theme, “The Role of Electron Microscopy in Enlightening the Invisible”, resonated across sessions on neuropathology, renal biopsy, infectious agents, nanostructure imaging, and emerging microscopy techniques. TBRI played a central role in organizing the event, in cooperation with Egyptian universities such as Tanta and Assiut.
CIQTEK’s Contributions & Engagement
At ESEM 2025, CIQTEK showcased its SEM product line, including FIBSEM, FESEM, and Tungsten Filament SEM. Our booth drew interest from both biological and materials science researchers, keen to see real-sample imaging, low-voltage performance, and analytical integration.
Beyond exhibits, CIQTEK representatives engaged in technical exchange, discussing how advanced SEM tools can bolster regional research infrastructure. We emphasized our commitment to delivering high-performing instruments, competitive pricing, and local support networks to facilitate adoption in diverse labs across the region.
Impact & Outlook
The conference underscored how microscopy continues to unveil the unseen—from cellular ultrastructure to nanomaterial phenomena. For many participants, this was a rare opportunity to access a wide spectrum of imaging techniques under one roof, and to converse directly with vendors like CIQTEK.
By engaging with local scientists and institutions, CIQTEK deepens its global reach and contributes to the growth of microscopy in underrepresented regions. We look forward to continuing our support in Africa and the Middle East through instrument installations, training, and responsive service.
분석적 쇼트키 전계방출 주사전자현미경(FESEM) CIQTEK SEM4000Pro 고휘도 및 장수명 쇼트키 전계 방출 전자총을 탑재한 분석용 FE-SEM 모델입니다. 3단계 전자기 렌즈 설계는 EDS/EDX, EBSD, WDS 등과 같은 분석 응용 분야에서 상당한 이점을 제공합니다. 이 모델은 저진공 모드와 고성능 저진공 2차 전자 검출기, 그리고 전도도가 낮거나 비전도성인 시료의 관찰에 유용한 접이식 후방 산란 전자 검출기를 기본으로 제공합니다.
고성능 및 범용 텅스텐 필라멘트 SEM 현미경 그만큼 CIQTEK SEM3200 SEM 현미경 탁월한 성능을 갖춘 범용 텅스텐 필라멘트 주사전자현미경(SEM)입니다. 고유한 이중 양극 전자총 구조는 높은 분해능을 보장하고 낮은 여기 전압에서 이미지 신호대잡음비를 향상시킵니다. 또한, 다양한 옵션 액세서리를 제공하여 SEM3200은 뛰어난 확장성을 갖춘 다재다능한 분석 기기입니다.
가 + 집속 이온 빔 전계 방출 주사 전자 현미경 그만큼 CIQTEK DB550 집속 이온 빔 주사 전자 현미경(FIB-SEM) 나노 분석 및 시료 준비를 위한 집속 이온 빔 컬럼을 갖추고 있습니다. "슈퍼 터널" 전자 광학 기술, 낮은 수차, 비자성 대물렌즈 설계를 활용하며, "저전압, 고해상도" 기능을 통해 나노스케일 분석 성능을 보장합니다. 이온 컬럼은 Ga를 용이하게 합니다. + 나노 제작 성능을 보장하기 위해 매우 안정적이고 고품질의 이온 빔을 사용하는 액체 금속 이온 소스를 사용합니다. DB550은 나노 조작기, 가스 주입 시스템, 사용자 친화적인 GUI 소프트웨어가 통합된 올인원 나노 분석 및 제작 워크스테이션입니다.