Discover CIQTEK Flagship Technologies at JASIS 2025, Booth 7B-407

Ga+ 집속 이온 빔 전계 방출 주사 전자 현미경 그만큼 CIQTEK DB550 집속 이온 빔 주사 전자 현미경(FIB-SEM) 나노 분석 및 시료 준비를 위한 집속 이온 빔 컬럼을 갖추고 있습니다. "슈퍼 터널" 전자 광학 기술, 낮은 수차, 비자성 대물렌즈 설계를 활용하며, "저전압, 고해상도" 기능을 통해 나노스케일 분석 성능을 보장합니다. 이온 컬럼은 매우 안정적이고 고품질의 이온 빔을 제공하는 Ga+ 액체 금속 이온 소스를 활용하여 나노 제작 성능을 보장합니다. DB550은 나노 조작기, 가스 주입 시스템, 사용자 친화적인 GUI 소프트웨어가 통합된 올인원 나노 분석 및 제작 워크스테이션입니다.

고속 완전 자동화된 필드 방출 주사전자현미경 워크스테이션 CIQTEK HEM6000 고휘도 대구경 전류 전자총, 고속 전자빔 편향 시스템, 고전압 샘플 스테이지 감속, 동적 광학 축, 침지 전자기 및 정전기 콤보 대물 렌즈와 같은 시설 기술을 사용하여 나노 스케일 분해능을 보장하는 동시에 고속 이미지 획득을 달성합니다. 자동화된 작업 프로세스는 더욱 효율적이고 스마트한 대면적 고해상도 이미징 워크플로우와 같은 응용 분야를 위해 설계되었습니다. 이미징 속도는 기존 전계방출 주사전자현미경(FESEM)보다 5배 이상 빠릅니다.

X-밴드 벤치탑 전자상자성공명 또는 전자스핀공명(EPR, ESR) 분광기 그만큼 CIQTEK EPR200M 새롭게 디자인되었습니다 벤치탑 EPR 분광기 정성적 및 정량적 분석을 전문으로 합니다. 자유 라디칼, 전이 금속 이온, 재료 도핑 및 결함 이는 화학 반응의 실시간 모니터링, 재료 특성의 심층적 평가, 환경 과학에서 오염 물질 분해 메커니즘 탐색을 위한 탁월한 연구 도구입니다. EPR200M은 콤팩트한 디자인을 채택하고 마이크로파 발생원, 자기장, 프로브, 그리고 메인 컨트롤러를 고도로 통합하여 다양한 실험 요구 사항을 충족하는 동시에 감도와 안정성을 보장합니다. 사용자 친화적인 인터페이스 덕분에 처음 사용하는 사용자도 빠르게 사용할 수 있어 EPR 기기를 매우 쉽게 사용할 수 있습니다. ★ 맞춤 솔루션, 견적 또는 자세한 브로셔를 원하시면 전문가에게 이메일을 보내주세요. info@ciqtek.com

초고분해능 전계방출 주사전자현미경(FESEM) 그만큼 CIQTEK SEM5000X 최적화된 전자 광학 컬럼 설계를 통해 전체 수차를 30%까지 줄인 초고분해능 FESEM으로, 15kV에서 0.6nm, 1kV에서 1.0nm의 초고분해능을 구현합니다. 높은 분해능과 안정성 덕분에 첨단 나노 구조 재료 연구뿐만 아니라 첨단 노드 반도체 IC 칩의 개발 및 제조에도 유리합니다.

초고해상도 텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경 그만큼 시크텍 SEM3300 주사전자현미경(SEM) "슈퍼 터널" 전자 광학, 인렌즈 전자 검출기, 정전식 및 전자기식 복합 대물렌즈와 같은 기술을 통합합니다. 이러한 기술을 텅스텐 필라멘트 현미경에 적용함으로써 기존 주사전자현미경(SEM)의 오랜 분해능 한계를 뛰어넘어, 이전에는 필드 방출 주사전자현미경(FSEM)으로만 가능했던 저전압 분석 작업을 수행할 수 있게 되었습니다.