반도체 재료와 금속 전극 사이의 계면은 전자 소자의 성능에 중요한 역할을 합니다. 계면의 표면 형태, 화학적 조성, 그리고 전자 구조는 전도도, 안정성, 그리고 전반적인 소자 신뢰성과 같은 핵심 요소에 직접적인 영향을 미칩니다. 따라서 포괄적인 반도체-금속 계면의 특성화 장치 설계를 최적화하고 성능을 개선하는 데 필수적입니다. 전계방출 주사전자현미경(FE-SEM) 높은 공간 분해능, 직접 이미징 기능, 다중 모드 분석 기능 덕분에 선호되는 분석 기술이 되었으며, 특히 반도체-금속 계면 연구에 적합합니다. SEM 분석 역량 그만큼 CIQTEK SEM5000X 전계 방출 주사 전자 현미경 반도체-금속 전극 계면 분석에서 탁월한 성능을 보여줍니다. 쇼트키 전계 방출 전자총 최적화된 전자 광학 시스템을 갖춘 SEM...