CIQTEK, 현미경 및 미세분석 2026 참가 성공적으로 마무리

CIQTEK, 현미경 및 미세분석 2026 참가

2026년 8월 12일

8월 2일부터 6일까지 CIQTEK은 미국 위스콘신주 밀워키의 Baird Center에서 열린 현미경 및 미세분석 2026(M&M 2026)에 참가했습니다. 부스 718에서 CIQTEK은 SEM3300 텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경을 선보이고 학회 참가자들과 만났습니다.

M&M은 현미경 및 미세분석 과학과 기술을 위한 연례 포럼입니다. 행사 기간 동안 CIQTEK은 부스에서 SEM3300 텅스텐 필라멘트 SEM을 전시했습니다. 제품 자료, 이미지 전시, 현장 대화를 통해 팀은 방문객들에게 CIQTEK의 전자 현미경 제품과 응용 방향을 소개했습니다.

8월 3일, CIQTEK은 다음 제목의 벤더 튜토리얼을 발표했습니다:

대규모 체적 현미경 응용을 위한 저 kV에서 탁월한 이미징 해상도를 저하하지 않는 고유한 고속 주사 전자 현미경의 잠재력 활용: CIQTEK 발표

발표는 대규모 체적 현미경 응용을 위한 고속 주사 전자 현미경에 초점을 맞췄습니다. 참가자들은 발표에 참석하고 부스에서 CIQTEK 팀과 아이디어를 교환했습니다.

학회 기간 내내 CIQTEK 팀은 방문객을 맞이하고 전자 현미경 제품 및 관련 응용 분야에 대해 대화를 나누었습니다. M&M 2026 주최자와 CIQTEK 부스를 방문해 주신 모든 분들께 감사드립니다. CIQTEK은 과학 및 산업 사용자를 위한 전자 현미경 기술과 제품 개발을 계속해 나갈 것입니다.