CIQTEK FIB SEM 실제 시연 - 나노 마이크로기둥 시편 준비

CIQTEK FIB-SEM 실증 시연

집속 이온빔 주사 전자 현미경(FIB-SEM)은 결함 진단, 수리, 이온 주입, 현장 처리, 마스크 수리, 에칭, 집적 회로 설계 수정, 칩 장치 제조 등 다양한 응용 분야에 필수적입니다. , 마스크 없는 가공, 나노구조 제작, 복합 나노 패터닝, 재료의 3차원 이미징 및 분석, 초민감 표면 분석, 표면 변형 및 투과전자현미경 표본 준비

CIQTEK은 집속 이온빔( FIB) 컬럼. 이는 나노 규모 분석을 보장하기 위해 "SuperTunnel" 전자 광학 기술, 낮은 수차 및 저전압 및 고해상도 기능을 갖춘 비자성 대물렌즈 설계를 채택한 우아하고 다재다능한 나노 규모 분석 및 표본 준비 도구입니다. 이온 컬럼은 매우 안정적인 고품질 이온 빔으로 Ga+ 액체 금속 이온 소스를 촉진하여 나노 제조 기능을 보장합니다. DB550은 통합된 나노 조작기, 가스 주입 시스템, 대물렌즈용 전기 오염 방지 메커니즘, 사용자 친화적인 GUI 소프트웨어를 갖추고 있어 올인원 나노 스케일 분석 및 제작 워크스테이션을 용이하게 합니다.

DB550의 뛰어난 성능을 선보이기 위해 CIQTEK에서는 "CIQTEK FIB-SEM 실용 시연"이라는 특별 이벤트를 기획했습니다. 프로그램에서는 재료과학, 반도체 산업, 생물의학 연구 등의 분야에서 이 첨단 장비의 광범위한 응용을 보여주는 비디오를 선보일 예정입니다. 시청자는 DB550의 작동 원리를 이해할 수 있습니다., 놀라운 미세 이미지를 감상하고 과학 연구 및 산업 발전에 대한 이 기술의 중요한 의미를 탐구하십시오.

나노-마이크로필러 S페시멘 준비

나노 마이크로필라 S페시멘 준비가 성공적으로 완료되어 나노 규모 처리 및 분석에서 CIQTEK 집속 이온빔 주사 전자 현미경의 강력한 기능을 입증했습니다. 이 제품의 성능은 나노역학 테스트에 참여하는 고객에게 정확하고 효율적인 다중 모드 테스트 지원을 제공하여 재료 연구의 혁신을 촉진합니다.