scanning electron microscope market

텅스텐 필라멘트 SEM | SEM3300

차세대 텅스텐 필라멘트 주사전자현미경

CIQTEK SEM3300 주사형 전자 현미경(SEM)에는 "슈퍼 터널" 전자 광학, 인렌즈 전자 검출기, 정전기 및 전자기 복합 대물 렌즈와 같은 기술이 통합되어 있습니다. 이러한 기술을 텅스텐 필라멘트 현미경에 적용함으로써 SEM의 오랜 분해능 한계를 뛰어넘어 이전에 전계 방출 SEM으로만 달성할 수 있었던 저전압 분석 작업을 텅스텐 필라멘트 SEM이 수행할 수 있게 되었습니다.

ⶠ렌즈 내 전자 검출기

  • SEM In-lens Electron Detector
  • SEM3300 analysis images

    1 kV에서 촬영한 리튬 배터리 격막 이미지를 20,000배로 확대한 필름 이미지, SEM3300으로 촬영한 이미지


... 광학항법

수직으로 장착된 챔버 카메라를 사용하여 표본 스테이지 탐색을 위한 광학 이미지를 캡처하면 보다 직관적이고 정확한 표본 위치 지정이 가능합니다.

  • SEM Optical Navigation

ⶠ자동 기능

향상된 자동 밝기 및 대비, 자동 초점, 자동 난시 교정 기능. 클릭 한 번으로 이미징 가능!

자동 초점

  • during autofocus
  • after autofocus

자동 난시 교정

  • during autofocus
  • after autofocus

자동 밝기 및 명암

  • during autofocus
  • after autofocus

... 더 안전한 사용


...¶ 손쉬운 필라멘트 교체

사전 정렬된 교체 필라멘트 모듈을 사용할 준비가 되었습니다.

CIQTEK SEM 현미경 SEM3300 이미지 갤러리


ⶠ입자 및 기공 분석 소프트웨어(입자) *선택 사항

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

CIQTEK SEM 현미경 소프트웨어는 다양한 유형의 입자 및 기공 샘플에 적합한 다양한 표적 감지 및 분할 알고리즘을 사용합니다. 입자 및 기공 통계의 정량적 분석이 가능하며 재료과학, 지질학, 환경과학 등의 분야에 응용이 가능합니다.


ⶠ이미지 후처리 소프트웨어

SEM Microscope Image Post-processing Software

전자현미경으로 촬영한 이미지에 대해 온라인 또는 오프라인 이미지 후처리를 수행하고 일반적으로 사용되는 EM 이미지 처리 기능, 편리한 측정 및 주석 도구를 통합합니다.


... 자동 측정 *옵션

SEM Microscope software Auto Measure

선폭 가장자리를 자동으로 인식하여 더 정확한 측정과 더 높은 일관성을 제공합니다. Line, Space, Pitch 등 다양한 에지 감지 모드를 지원합니다. 다양한 이미지 형식과 호환되며 일반적으로 사용되는 다양한 이미지 후처리 기능을 갖추고 있습니다. 이 소프트웨어는 사용하기 쉽고 효율적이며 정확합니다.


... 소프트웨어 개발 키트(SDK) *선택 사항

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

이미지 획득, 작동 조건 설정, 전원 켜기/끄기, 스테이지 제어 등을 포함하여 SEM 현미경을 제어하기 위한 일련의 인터페이스를 제공합니다. 간결한 인터페이스 정의를 통해 특정 전자 현미경 작동 스크립트 및 소프트웨어의 신속한 개발이 가능합니다. 관심 영역 자동 추적, 산업 자동화 데이터 수집, 이미지 드리프트 보정 및 기타 기능을 제공합니다. 규조류 분석, 철강 불순물 검사, 청정도 분석, 원료 관리 등 전문 분야의 소프트웨어 개발에 활용 가능합니다.


ⶠ자동지도 *선택사항

  • during autofocus

CIQTEK SEM3300 SEM 현미경 사양
전자광학 해상도 2.5nm @ 15kV, SE
4nm @ 3kV, SE
5nm @ 1kV, SE
가속전압 0.1kV ~ 30kV
배율(폴라로이드) 1x~300,000x
시료실 카메라 광학항법
챔버 모니터링
무대형 5축 진공호환 전동식
XY 범위 125mm
Z 범위 50mm
T 범위 - 10° ~ 90°
R 범위 360°
SEM 검출기 표준 렌즈 내 전자검출기(Inlens)
Everhart-Thornley 검출기(ETD)
선택 접이식 후방 산란 전자 검출기(BSED)
에너지 분산 분광계(EDS/EDX)
전자 후방 산란 회절 패턴(EBSD)
선택 시편 교환 로드락
트랙볼 및 노브 제어판
사용자 인터페이스 운영체제 윈도우
내비게이션 광학 네비게이션, 제스처 퀵 네비게이션, 트랙볼(옵션)
자동 기능 자동 밝기 및 대비, 자동 초점, 자동 낙인기
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