차세대 텅스텐 필라멘트 주사전자현미경
CIQTEK SEM3300 주사형 전자 현미경(SEM)에는 "슈퍼 터널" 전자 광학, 인렌즈 전자 검출기, 정전기 및 전자기 복합 대물 렌즈와 같은 기술이 통합되어 있습니다. 이러한 기술을 텅스텐 필라멘트 현미경에 적용함으로써 SEM의 오랜 분해능 한계를 뛰어넘어 이전에 전계 방출 SEM으로만 달성할 수 있었던 저전압 분석 작업을 텅스텐 필라멘트 SEM이 수행할 수 있게 되었습니다.
수직으로 장착된 챔버 카메라를 사용하여 표본 스테이지 탐색을 위한 광학 이미지를 캡처하면 보다 직관적이고 정확한 표본 위치 지정이 가능합니다.
향상된 자동 밝기 및 대비, 자동 초점, 자동 난시 교정 기능. 클릭 한 번으로 이미징 가능!
사전 정렬된 교체 필라멘트 모듈을 사용할 준비가 되었습니다.
CIQTEK SEM 현미경 소프트웨어는 다양한 유형의 입자 및 기공 샘플에 적합한 다양한 표적 감지 및 분할 알고리즘을 사용합니다. 입자 및 기공 통계의 정량적 분석이 가능하며 재료과학, 지질학, 환경과학 등의 분야에 응용이 가능합니다.
전자현미경으로 촬영한 이미지에 대해 온라인 또는 오프라인 이미지 후처리를 수행하고 일반적으로 사용되는 EM 이미지 처리 기능, 편리한 측정 및 주석 도구를 통합합니다.
선폭 가장자리를 자동으로 인식하여 더 정확한 측정과 더 높은 일관성을 제공합니다. Line, Space, Pitch 등 다양한 에지 감지 모드를 지원합니다. 다양한 이미지 형식과 호환되며 일반적으로 사용되는 다양한 이미지 후처리 기능을 갖추고 있습니다. 이 소프트웨어는 사용하기 쉽고 효율적이며 정확합니다.
이미지 획득, 작동 조건 설정, 전원 켜기/끄기, 스테이지 제어 등을 포함하여 SEM 현미경을 제어하기 위한 일련의 인터페이스를 제공합니다. 간결한 인터페이스 정의를 통해 특정 전자 현미경 작동 스크립트 및 소프트웨어의 신속한 개발이 가능합니다. 관심 영역 자동 추적, 산업 자동화 데이터 수집, 이미지 드리프트 보정 및 기타 기능을 제공합니다. 규조류 분석, 철강 불순물 검사, 청정도 분석, 원료 관리 등 전문 분야의 소프트웨어 개발에 활용 가능합니다.
CIQTEK SEM3300 SEM 현미경 사양 | ||||
전자광학 | 해상도 | 2.5nm @ 15kV, SE 4nm @ 3kV, SE 5nm @ 1kV, SE |
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가속전압 | 0.1kV ~ 30kV | |||
배율(폴라로이드) | 1x~300,000x | |||
시료실 | 카메라 | 광학항법 | ||
챔버 모니터링 | ||||
무대형 | 5축 진공호환 전동식 | |||
XY 범위 | 125mm | |||
Z 범위 | 50mm | |||
T 범위 | - 10° ~ 90° | |||
R 범위 | 360° | |||
SEM 검출기 | 표준 | 렌즈 내 전자검출기(Inlens) Everhart-Thornley 검출기(ETD) |
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선택 | 접이식 후방 산란 전자 검출기(BSED) 에너지 분산 분광계(EDS/EDX) 전자 후방 산란 회절 패턴(EBSD) |
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선택 | 시편 교환 로드락 | |||
트랙볼 및 노브 제어판 | ||||
사용자 인터페이스 | 운영체제 | 윈도우 | ||
내비게이션 | 광학 네비게이션, 제스처 퀵 네비게이션, 트랙볼(옵션) | |||
자동 기능 | 자동 밝기 및 대비, 자동 초점, 자동 낙인기 |