CIQTEK FIB-SEM 실증 시연 - 페라이트-마르텐사이트 강의 투과 시편 준비

CIQTEK FIB-SEM 실증 시연

집속 이온빔 주사 전자 현미경(FIB-SEM) 은 결함 진단, 수리, 이온 주입, 현장 처리, 마스크 수리, 에칭, 집적 회로 설계 수정, 칩 소자 제작, 마스크리스 가공, 나노 구조 제작, 복합 나노 패터닝, 3차원 이미징 및 재료 분석, 초민감 표면 분석, 표면 개질, 투과전자현미경 시편 준비

CIQTEK은 FIB-SEM DB550을 출시했습니다. 이 제품은 집속형 전자현미경(FE-SEM)을 독립적으로 제어할 수 있는 전계방출주사전자현미경(FE-SEM)이 특징입니다. 이온빔(FIB) 컬럼. “SuperTunnel” 전자 광학 기술, 낮은 수차 및 비-광학 기술을 채택한 우아하고 다재다능한 나노 스케일 분석 및 시료 준비 도구입니다. 나노 규모 분석을 보장하기 위해 저전압 및 고해상도 기능을 갖춘 자기 대물렌즈 설계. 이온 컬럼은 매우 안정적인 고품질 이온 빔으로 Ga+ 액체 금속 이온 소스를 촉진하여 나노 제조 기능을 보장합니다. DB550에는 나노 조작기, 가스 주입 시스템, 대물렌즈용 전기 오염 방지 메커니즘, 사용자 친화적인 GUI 소프트웨어가 통합되어 있습니다. 올인원 나노 스케일 분석 및 제작 워크스테이션.

DB550의 뛰어난 성능을 선보이기 위해 CIQTEK은 "CIQTEK FIB-SEM 실용 시연"이라는 특별 이벤트를 계획했습니다. 이 프로그램은 이 첨단 장비의 광범위한 적용을 보여주는 비디오를 제공합니다. 재료과학, 반도체 산업, 생명의학 연구 등의 분야. 시청자는 DB550의 작동 원리를 이해하고 놀라운 미세 이미지를 감상하며 과학 연구 및 산업 발전에 대한 이 기술의 중요한 의미를 탐구하게 됩니다.

페라이트-마르텐사이트강 투과 시험편의 제작

FIB-SEM DB550 CIQTEK에서 개발한 제품은 페라이트-마르텐사이트 강의 투과 시편을 완벽하게 준비할 수 있는 능력을 보유하고 있습니다. 이 기능을 통해 나노 규모 영역의 연구자들은 인터페이스 특성, 미세 구조 형태, 페라이트 및 마르텐사이트 상의 진화 과정을 직접 관찰할 수 있습니다. 이러한 관찰은 페라이트-마틴 강의 상변태 동역학, 미세 구조 조직 및 기계적 특성 간의 관계에 대한 이해를 심화시키는 중요한 단계입니다.