전계 방출 주사 전자 현미경 | SEM4000 개의 공급자,전계 방출 주사 전자 현미경 | SEM4000 개의 제조업체,전계 방출 주사 전자 현미경

전계 방출 주사 전자 현미경 | SEM4000

CIQTEK SEM4000은 고휘도 장수명 쇼트키 전계방출 전자총을 탑재한 분석용 열전계방출 주사전자현미경입니다.

크고 지속적으로 조정 가능한 빔 전류를 갖춘 3단계 자기 렌즈 설계는 EDS, EBSD, WDS 및 기타 응용 분야에서 확실한 이점을 제공합니다. 저진공 모드를 지원하여 약하거나 비전도성 샘플의 전도도를 직접 관찰할 수 있습니다. 표준 광학 탐색 모드와 직관적인 작동 인터페이스를 통해 분석 작업이 쉬워집니다.

*저진공 모드
고해상도(1nm@30kV)
지속적으로 조정 가능한 빔 전류

*60초 빠른 샘플 전환
3단계 자기렌즈
누출 없는 자기 대물렌즈

• 고휘도 및 장수명의 쇼트키 전계 방출 전자총 장착

•고해상도, 30kV에서 1nm 분해능 이상

•3단계 자기 렌즈 설계, 넓은 빔 조정 범위

•*고성능 저진공 2차 전자 검출기, 약하거나 비전도성 샘플 관찰

•자기 시료를 직접 관찰할 수 있는 누출 없는 자기 대물렌즈 설계

•표준 광학 탐색 모드

주요 매개변수	해결	1nm @ 30kV, SE 0.9nm @ 30kV, 줄기
	가속 전압	200V ~ 30kV
	확대	1 ~ 1,000,000x
	전자총	고휘도 쇼트키 전계 방출 전자총
샘플실	진공 시스템	완전 자동 제어
	저진공(옵션)	최대 180Pa
	카메라	듀얼 카메라(광학 네비게이션 + 챔버 내 모니터링)
	거리	엑스: 120mm Y: 115mm Z: 50mm 티: -10°~ +90° 오른쪽: 360°
감지기와 확장	기준	Everhart-Thornley 검출기(ETD)
감지기와 확장	선택 과목	저진공 검출기(LVD) 후방 산란 전자 검출기(BSE) STEM 검출기 EDS EBSD 에어록 트랙볼 & 손잡이 제어판
소프트웨어	언어	영어
	OS	윈도우
	항해	광학 탐색, 제스처 탐색
	자동 기능	자동 밝기 대비, 자동 초점, 자동 난시

PA-유리섬유 복합재료
10kV / 500X / BSED Comp
실리카 미소구체
10kV / 80,000X / BSED Comp
금속 골절
15kV / 5,000X / SE ETD

금속 미세구조(알루미늄 구리 용접 부품)
20kV / 10,000X / BSED Comp
콜리플라워 꽃가루
10kV / 50,000X / SE ETD
스트론튬 티탄산 바륨 세라믹
10kV / 10,000X / BSED Comp

티타늄 합금
10kV / 5,000X / BSED Comp
티타늄 합금
10kV / 10,000X / SE ETD

핫 태그 : 전계방출형 주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope) 제조업체 글로벌 공급업체 SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM 검출기 고해상도 FESEM 최적의 가격 고휘도 쇼트키 전계 방출 전자총 최고 배율 전계 방출 주사 전자 현미경 전계 방출 주사 전자 현미경 응용 분야 전계 방출 주사 전자 현미경 pdf 전계 방출 주사 전자 현미경 참고 사항

메시지를 남겨주세요

자세한 내용을 알아보려면 언제든지 문의하거나 견적을 요청하거나 온라인 데모를 예약하세요! 최대한 빨리 답변해 드리겠습니다.

주제 : 전계 방출 주사 전자 현미경 | SEM4000

제출하다

관련 상품

전계 방출 주사 전자 현미경 | SEM5000

CIQTEK SEM5000은 고해상도 이미징 및 분석 능력을 갖춘 전계방출형 주사전자현미경으로, 고압 전자빔 터널 기술(SuperTunnel), 저수차, 비침수성 등 첨단 전자광학 컬럼 설계의 장점과 풍부한 기능을 지원합니다. 대물렌즈를 사용하면 저전압 고해상도 이미징이 가능하며 자기 표본도 분석할 수 있습니다. 광학 탐색, 자동화된 기능, 신중하게 설계된 인간-컴퓨터 상호 작용 사용자 인터페이스, 최적화된 작동 및 사용 프로세스를 통해 전문가 여부에 관계없이 고해상도 이미징 및 분석 작업을 빠르게 시작하고 완료할 수 있습니다.

더 알아보기

텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경 | SEM3200

CIQTEK SEM3200은 고성능 텅스텐 필라멘트 주사전자현미경입니다. 고진공 모드와 저진공 모드 모두에서 뛰어난 이미징 품질 기능을 제공합니다. 또한 샘플을 특성화하기 위한 사용자 친화적인 환경과 넓은 피사계 심도를 갖추고 있습니다. 게다가 풍부한 확장성은 사용자가 현미경 이미징의 세계를 탐색하는 데 도움이 됩니다.

더 알아보기

SEM Imaging analysis with Focused Ion Beam (FIB)

집중 이온빔 주사 전자 현미경 | DB500

CIQTEK DB500은 나노 분석 및 시료 준비를 위한 집속 이온빔 컬럼을 갖춘 전계방출형 주사전자현미경으로, "SuperTunnel" 기술이 적용되어 저수차, 무자기 대물렌즈 설계, 저전압, 고해상도를 구현합니다. 나노 수준의 분석 능력을 보장하는 능력입니다. 이온 컬럼은 매우 안정적인 고품질 이온빔으로 Ga+ 액체 금속 이온 소스를 촉진하여 나노 제조 기능을 보장합니다. DB500은 통합 나노 조작기, 가스 주입 시스템, 대물 렌즈용 전기 오염 방지 메커니즘, 24개의 확장 포트를 갖추고 있어 포괄적인 구성과 확장성을 갖춘 만능 나노 분석 및 제조 플랫폼입니다.

더 알아보기

Ultra-high Resolution Field Emission Scanning Electron Microscope for sale

초고해상도 전계 방출 주사 전자 현미경 | SEM5000X

CIQTEK SEM5000X는 0.6 nm@15 kV 및 1.0 nm@1 kV의 획기적인 분해능을 갖춘 초고해상도 전계 방출 주사 전자 현미경(FE-SEM)입니다. 업그레이드된 컬럼 엔지니어링 프로세스, "SuperTunnel" 기술, 고해상도 대물렌즈 설계를 통해 SEM5000X는 저전압 이미징 해상도를 더욱 향상시킬 수 있습니다. 시편 챔버 포트는 16개로 확장되며 시편 교환 로드록은 최대 8인치 웨이퍼 크기(최대 직경 208mm)를 지원하여 응용 분야를 크게 확장합니다. 적용 범위. 고급 스캐닝 모드와 향상된 자동화 기능은 더욱 강력한 성능과 더욱 최적화된 경험을 제공합니다.

더 알아보기