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CIQTEK is the manufacturer and global supplier of high-value scientific instruments, such as Electron Microscopes, Electron Paramagnetic Resonance (Electron Spin Resonance), Gas Adsorption Analyzers, Scanning NV Microscopes, etc.
SEM best price for sale
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텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경 | SEM2000

CIQTEK SEM2000은 20kV 분해능(최대 3.9nm)과 30kV 업그레이드를 지원하는 기본적이고 다용도 분석용 텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경으로, 서브 마이크로스케일 샘플의 미세 구조 정보를 관찰할 수 있습니다.

데스크탑/벤치탑 SEM보다 동작 범위가 더 넓습니다. 이는 샘플의 신속한 스크리닝에 적합하며 BSED, EDS/EDX 및 기타 액세서리를 위한 더 많은 확장 인터페이스를 갖추고 있어 더 넓은 범위의 응용이 가능합니다.

  • 해결
    3.9nm @ 20kV
  • 가속 전압
    0.5 ~ 20kV (30kV 선택)
  • 확대
    1 ~ 300,000x

다목적 감지기

고감도 후방산란 검출기

· 다채널 이미징

검출기는 컴팩트한 디자인과 높은 감도를 가지고 있습니다. 4분할 설계를 사용하면 구성 분포 이미지뿐만 아니라 다양한 방향의 그림자 이미지를 얻기 위해 샘플을 기울일 필요가 없습니다.

 

 

· 2차전자(SE) 이미징과 후방산란전자(BSE) 이미징의 비교

후방 산란 전자 이미징 모드에서는 전하 효과가 크게 감소하고 샘플 표면의 구성에 대한 더 많은 정보를 얻을 수 있습니다.

 

 

에너지 스펙트럼

금속 개재물 에너지 스펙트럼의 표면 스캔 분석 결과.

 

 

 

전자 후방 산란 회절(EBSD)

빔 전류가 큰 텅스텐 필라멘트 전자 현미경은 고해상도 EBSD의 테스트 요구 사항을 완벽하게 충족하며 결정 방향 교정 및 입자 크기를 위해 금속, 세라믹 및 광물과 같은 다결정 재료를 분석할 수 있습니다.

그림은 입자 크기와 방향을 식별하고 입자 경계와 쌍정을 결정하며 재료 조직과 구조에 대한 정확한 판단을 내릴 수 있는 Ni 금속 시편의 EBSD 대척지 맵을 보여줍니다.

 

전기 광학 시스템 전자총 사전 정렬된 중간 크기의 포크형 텅스텐 필라멘트
해결

3.9nm @ 20kV(SE)

4.5nm @ 20kV(BSE)

확대 1개~300,000개
가속 전압 0.5kV ~ 20kV
이미징 시스템 탐지기

2차 전자 검출기(ETD)

*후방산란전자검출기(BSED), *에너지 분광계 EDS 등

이미지 형식 TIFF, JPG, BMP, PNG
진공 시스템 고진공 5×10 -4 Pa 보다 우수함
제어 모드 완전 자동화된 제어 시스템
슬리퍼 기계식 펌프 ×1, 분자 펌프 ×1
샘플 챔버 카메라 광학 항법
샘플 테이블 2축 자동
거리

엑스: 100mm

와이: 100mm

소프트웨어 운영 체제 윈도우
네비게이션 광학 네비게이션, 제스처 퀵 네비게이션
자동 기능 자동 밝기 대비, 자동 초점, 자동 소멸
특수 기능 지능형 보조 분산, *대규모 이미지 스티칭(옵션 액세서리)
설치 요구 사항 공간 L ≥ 3000mm, W ≥ 4000mm, H ≥ 2300mm
온도 20°C(68°F) ~ 25°C(77°F)
습기 ≤ 50%
전원공급장치 AC 220V(±10%), 50Hz, 2kVA

 

 

간단한 사용자 인터페이스

명확하고 간단한 인터페이스

기능은 간단하고 조작이 쉽습니다. 초보자라도 빠른 학습으로 빠르게 시작할 수 있습니다.

고급 자동화 기능

자동 밝기 대비, 자동 초점, 자동 이미지 분산을 모두 한 번의 클릭으로 조정할 수 있습니다.

광범위한 측정 기능

길이, 면적, 진원도, 각도 등의 측정 기능으로 사진 관리, 미리보기, 편집 기능을 제공합니다.


 

주요 기능

광학 항법

보고 싶은 곳을 클릭하면 쉽게 탐색할 수 있습니다.

고화질 샘플 스테이지 사진과 빠른 샘플 포지셔닝을 위한 표준 광학 내비게이션 카메라.

 

 

충돌 방지

민감한 장치를 최대한 보호하기 위한 초보자 친화적인 충돌 방지 설계.

 

원클릭 이미징

*소프트웨어는 원클릭 이미징으로 작동하기 쉽습니다.

 

 

작동 거리

최적의 분석 거리와 이미지 거리가 하나로 통합되어 고품질의 성능을 쉽게 경험할 수 있습니다.

 

 

여러 정보의 동시 이미징

이 소프트웨어는 하이브리드 이미징을 위해 SE와 BSE 간 원클릭 전환을 지원합니다. 시료의 형태학적 정보와 구성 정보를 동시에 관찰할 수 있습니다.

 

해상도 표시기

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near-bit follow-on measurement system

2022년 1월, CIQTEK-QOILTECH에서 제공한 CatLiD-I 675 근접 비트 후속 측정 시스템은 Ordos의 Yishaan 경사면과 Jinxi 굴곡 습곡대 사이의 전이 위치에 위치한 Linxingzhong 가스전에서 성공적인 운영을 달성했습니다. 관계자들이 잘 인정한 유역입니다. 이 유정의 대상층 솔기의 상부와 하부의 암석은 주로 이암과 탄소질 이암입니다. 석탄층은 깊은 깊이에 묻혀 있으며 주변 유정에 대한 참조 데이터가 적습니다. 탄층 부분은 벽 붕괴 및 우물 누출, 다운홀 막힘 시추, 매설 시추 및 기타 복잡한 사고가 발생하기 쉽습니다. 또한 착륙 전진으로 인해 우물 경사 조정이 큽니다. CIQTEK-QOILTECH CatLiD-I 675 근거리 비트는 2208m에서 픽업되었으며 재테스트 곡선은 상부 장비와 일치하여 정확한 착륙 지점을 제공하기 위한 안내 데이터를 제공했습니다.     착지 시 탄층의 전진으로 인해 탄층의 바닥까지 궤적이 내려가며, 니어 비트의 감마 곡선은 위에서 아래까지 탄층의 완전한 곡선 패턴을 측정하여 이를 제공합니다. 나중에 석탄층 내부의 시추공 궤적 위치를 판단하는 기초가 됩니다. 드릴링 시 니어 비트의 감마 곡선 변화는 고해상도로 명확하며 탄층 안팎 및 탄층 내부의 위치를 ​​정확하게 판단합니다. 석탄층의 맥석 값의 정확한 변화는 궤적의 위치를 ​​효과적으로 결정하여 시추공 궤적의 드릴링 발생률과 부드러움을 향상시킬 수 있습니다.     이 유정의 서비스 구간은 2208-3208m이며 누적 길이는 1000m이고 시추 발생률은 91.7%입니다. 누적 다운홀 시간 168시간, 순수 드릴링 53.5시간, 평균 기계적 드릴링 속도 18.69m/h로 드릴링 주기를 대폭 단축하여 완료 깊이까지 드릴링하는 여행! CIQTEK-QOILTECH 현장 직원과 관련 팀이 협력하여 시추주기를 단축하고 시추 발생률을 높이고 위험을 줄였으며 마침내 모두로부터 높은 평가를 받았습니다! CIQTEK-QOILTECH CatLiD-I 675 근접 비트 측정 시스템은 완벽한 완성입니다.

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원자 자력계는 알칼리 금속 원자의 외부 전자 껍질 전자의 스핀 특성을 활용하고 펌프 레이저를 조작 수단으로 사용하여 이러한 원자에 스핀 분극을 유도합니다. 외부의 약한 자기장에 노출되면 알칼리 금속 원자는 Larmor 세차 운동을 겪게 되어 감지 레이저의 흡수가 변경되어 고감도 자기장 측정이 가능해집니다. 원자 자력계는 고감도, 소형, 저에너지 소비, 휴대성 등의 특성을 갖고 있어 향후 과학 연구, 생체의학 응용 등 자기 감지 분야에서 인류를 양자 시대로 이끌 전망이다.

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CIQTEK EPR200-Plus는 CW-EPR 연구용으로 설계되었습니다. 전자 상자성 공명(EPR) 또는 전자 스핀 공명(ESR) 분광계는 상자성 물질에서 짝을 이루지 않은 전자 장치의 구조, 역학 및 공간 분포를 연구하는 강력한 분석 방법입니다. 이는 미세한 규모의 전자 스핀, 궤도 및 핵에 대한 현장 및 비파괴 정보를 제공할 수 있습니다. EPR 분광기는 금속 착물이나 유기 라디칼을 연구하는 데 특히 유용하므로 화학, 재료, 물리학, 환경 및 의학 분야에서 중요한 응용 분야를 갖습니다.   *액세서리 : 저온 유지 장치가 있는 액체 질소 가변 온도; 액체 헬륨 가변 온도; 샘플 튜브; 고니오미터; 전해조; 조사 시스템; 플랫 셀.

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