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FESEM 전계 방출 주사 전자 현미경 | SEM5000Pro

CIQTEK SEM5000Pro는 고해상도 이미징 및 분석 능력을 갖춘 전계방출형 주사전자현미경(FESEM) 으로, 풍부한 기능과 첨단 전자광학 컬럼 설계, 고압 전자빔 터널 기술(SuperTunnel), 저수차, MFL 대물렌즈는 저전압 고해상도 이미징을 구현하며 자기 표본도 분석할 수 있습니다.

광학 탐색, 자동화된 기능, 신중하게 설계된 인간-컴퓨터 상호 작용 사용자 인터페이스, 최적화된 작동 및 사용 프로세스를 통해 전문가 여부에 관계없이 고해상도 이미징 및 분석 작업을 빠르게 시작하고 완료할 수 있습니다.

전자총
고휘도 쇼트키 전계 방출 전자총
해결
0.8nm @ 15kV

1.2nm @ 1kV
확대
1 ~ 2,500,000x
가속 전압
0.02 ~ 30kV
시편 스테이지
5축 자동

• 낮은 가속 전압에서 고해상도 이미징.

• 전자기 복합 대물렌즈는 저전압 분해능을 향상시키고 자기 표본 관찰을 가능하게 합니다.

• 고압 터널링 기술(SuperTunnel)은 낮은 전압 분해능을 보장합니다.

• 교차가 없는 전자 광학 경로는 시스템 수차를 효과적으로 줄이고 해상도를 향상시킵니다.

• 수냉식 항온 대물렌즈는 대물렌즈 작업의 안정성, 신뢰성 및 반복성을 보장합니다.

• 자동 전환 가능한 조리개를 갖춘 자기 편향 6홀 다양한 조리개 시스템은 기계적 조정이 필요하지 않으며 클릭 한 번으로 빠른 전환을 통해 고해상도 이미징 또는 대형 빔 분석 모드를 달성합니다.

Scanning Electron Microscope applications

주요 매개변수	해결	0.8nm @ 15kV, SE 1.2nm @ 1.0kV, SE
	가속 전압	0.02 ~ 30kV
	확대	1 ~ 2,500,000x
	전자총 유형	고휘도 쇼트키 전계 방출 전자총
표본실	진공 시스템	완전 자동 제어, 오일 프리 진공 시스템
	카메라	듀얼 카메라(광학 네비게이션 + 챔버 모니터)
	무대 범위	X: 110mm, Y: 110mm, Z: 50mm T: -10°~ +70°, R: 360°
감지기 및 확장	기준	인렌즈 SE 검출기 Everhart-Thornley 검출기(ETD)
감지기 및 확장	선택 과목	접이식 후방산란 전자 검출기(BSED) 접이식 주사투과전자현미경(STEM) 에너지 분산 분광학(EDS, EDX) 전자 후방 산란 회절 패턴(EBSD) 에어록 트랙볼 및 노브 제어판
소프트웨어	언어	영어
	운영 체제	윈도우
	항해	Nav-Cam, 제스처 탐색
	자동 기능	자동 밝기 및 대비, 자동 초점, 자동 스티그메이터

유리 기판
3kV / ETD
촉매
5kV / 인렌즈
대장균
3 kV / 인렌즈

질화붕소 나노시트
3 kV / ETD
삼원 양성 전구체
3 kV / Inlens
고엔트로피 합금분말
10 kV / BSED

구리 금속분말
3 kV / 인렌즈
세라믹 단면
3 kV / Inlens
코발트산리튬
3 kV / 인렌즈

나노플라워
1 kV / 인렌즈
플랜트 섹션
30 kV / STEM-BF
플랜트 섹션
30kV / STEM-DF

플랜트 섹션
30 kV / STEM-HAADF
보에마이트
5kV/BSED
강철 함유물
15kV/BSED

강철 개재물
15kV / Inlens

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